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北极星太阳能光伏网讯:摘要：通过采用外量子测试、成分测试、可靠性测试等方法对太阳电池电致发光(EL) 漏电原因及漏电电池的可靠性进行了简要分析，结果显示，产生漏电的原因主要是由于硅片切割时引入了金属杂质，导致少子寿命低，漏电电池片衰减率及组成组件后工作温度均大于正常电池片。
0引言
目前规模生产的太阳电池的质量主要是从外观和电致发光(EL)两方面做判定。EL不良率是影响生产线合格率的主要因素之一，其问题的解决一直是困扰生产线的难题，查找原因、改善和解决问题是生产线一直探究的方向。本文主要针对太阳电池测试中出现的雪花状漏电问题展开分析，并对此类电池的可靠性进行了评估。
1漏电电池片分析
对在太阳电池测试中出现雪花状漏电的异常电池片进行酸抛处理，用H2O、HCl、HNO3、HF按1:1:1:1的比例混合成酸液，将背电场、电极、减反膜、p-n结及绒面酸洗抛光后进行如下测试。
1.1光致发光(PL)测试
将酸抛后的漏电电池硅片与正常硅片经同一制绒槽制绒后进行PL测试，测试结果如图1、图2所示。
对比图1和图2可知，酸抛后的漏电电池硅片并未出现发黑区域，也未见其他异常，因此可认为酸抛后的漏电电池硅片PL测试合格。
1.2酸抛后的漏电电池硅片参数测试
漏电电池片酸抛后，对其进行少子寿命、电阻率及厚度测试，具体数据如表1所示。
少子寿命达到合格的标准是大于1.2μs，但从表1测试数据来看，少子寿命存在不合格的情况，不良率为57.1%，不合格比例较高。
1.3硅片面少子寿命测试
图3为漏电电池片经酸抛后，测试其硅片的面少子寿命，均值为0.974μs；图4为正常硅片面少子寿命，均值为1.553μs。由于漏电电池片所使用硅片的少子寿命低于1.2μs，因此不满足合格标准。
