当我们得到TEM结果时文件格式.tiff格式为图片格式时，普通计算机直接双击即可打开以便于预览,.dm3格式则是测试源文件中最丰富的有效信息，它需要具体的软件，经常使用Digital Mcrograph进行打开和分析。

首先需要弄清楚TEM可用于哪些用途，一般有两方面的目的：一是查看形貌和高倍放大固体材料内部缺陷；其次，结合电子衍射技术（SAED）进一步分析了试样晶体结构，晶相组成。

关于看形貌只需选择美观、清晰能够表现出材料形貌特征的图即可，一般其比例尺在20-200nm。

对晶体结构及暴露晶面的分析可分为通过HRTEM（比例尺≤5nm）进行晶格间距的分析和通过SAED对晶体结构和晶相的判断，具体步骤如下：

1、对HRTEM分析

1.标卡的标定

打开Digital Mcrograph（D.M.)

File - open - 选择文件- 打开（dm3格式、JPEG、TIFF也可，D.M.可直接识别文件中的标尺、放大倍数、仪器型号等故有些情况下第一步“标卡的标定可以省略”）。

通过右上角工具栏放大镜功能，选中后单击鼠标可放大图片（按住ALT单击鼠标缩小）。

放大标卡位置，放大前与放大后：