因此通过紫外可见吸收光谱，同样可以获得间接禁带半导体材料的禁带宽度。

d.掺杂剂浓度的测量

部分半导体材料的掺杂浓度可以严重影响其禁带宽度，两者之间存在一定的关系，因此，通过紫外-可见吸收光谱获得半导体的禁带宽度，从而可以获得半导体材料中掺杂浓度的信息。

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